新品便攜式電阻率/方阻測試儀/便攜式電阻測定儀/方阻儀 型號:DP-KDY-1A 便攜式電阻率測試儀是用來測量硅晶塊、晶片的電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的儀器。 本儀器按照半導體材料電阻率的標準測試方法。 它由電器測量部份(主機)及四探針頭組成,需要時可加配測試架。 為減小體積,本儀器用同一塊數字表測量電流及電阻率。樣品測試電流由恒流源提供,隨時可進行校準,以確保電阻率測量的準確度。儀器可以用來分選材料也可以用來作產品檢測。對1~100Ω·cm標準樣片的測量誤差不超過±3%,在此范圍內達到標準. (1)測量范圍: 可測方塊電阻: 0.1~1999Ω/口 當被測材料電阻率≥200Ω·cm數字表顯示0.00。 (2)恒流源: 輸出電流:DC 0.1mA~10mA分兩檔 1mA量程:0.1~1mA 連續可調 10mA量程:1mA ~10mA連續可調 恒流精度:各檔均優于±0.1% (1) 直流數字電壓表 測量范圍:0~199.9mv 靈敏度:100μv 準確度:0.2%(±2個字) (2) 供電電源: AC:220V ±10% 50/60HZ 功率8W (3) 使用環境: 相對濕度≤80% (4) 重量、體積 重量:2.2 公斤 體積:寬210×高100×深240(mm)
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